高低溫交變上海高低溫老化試驗(yàn)箱

    設(shè)備主要是針對(duì)于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。本試驗(yàn)設(shè)備主要用于對(duì)產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對(duì)產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進(jìn)行環(huán)境模擬測(cè)試，測(cè)試后，通過(guò)檢測(cè)，來(lái)判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便于產(chǎn)品設(shè)計(jì)、改進(jìn)、鑒定及出廠檢驗(yàn)用。

溫度范圍 

A型: 0℃～+100℃（+150℃）

B型: -20℃～+100℃（+150℃）

C型: -40℃～+100℃（+150℃）

D型: -70℃～+100℃（+150℃）  

型號(hào)        工作室尺寸 （cm）

TH-408      W60×D80×H85   

TH-800      W80×D100×H100

TH-225      W50×D60×H75  

TH-1500     W100×D150×H100 

TH-1000     W100×D100×H100   

TH-150      W50×D50×H60   

技術(shù)參數(shù)：

波動(dòng)度：±0.5℃ 

均勻度：±2℃ 

升溫速率：3.0℃/min   （ 可按客戶要求定做） 

降溫速率：0.7～1℃/min    （可按客戶要求定做） 

設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB/T5170.2 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法 溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB 10589 低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB 10592 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB2423.1 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2 電工電子產(chǎn)品基本試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法

GB 11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB2424.1 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則

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